新的Prisma環境掃描電(diàn)子顯微鏡(SEM)結合了廣泛的成像和分析模式與全新的先進的自(zì)動化,以提供在同類儀器(qì)中的最完整的解決方案。它是理想的工(gōng)業(yè)研發,質量控制和故障分析應用,提供高(gāo)分辨率,樣品的靈活性和易于使用的操作界面。Prisma E SEM成功地超越了著名的Quanta SEM掃描電(diàn)鏡。