單顆粒分析所需的樣品篩選和數據采集更加輕松
全新的Glacios™ 冷凍透射電(diàn)子顯微鏡(冷凍 TEM)為(wèi)各個(gè)領域的科學家帶來了一(yī)種全面、經濟的冷凍 TEM 解決方案。它采用 200 kV XFEG 光(guāng)學器(qì)件(jiàn)、行業(yè)領先的 Autoloader(冷凍樣品操作機(jī)器(qì)人),還(hái)有與 Krios G3i 冷凍 TEM 上(shàng)相(xiàng)同的創新自(zì)動化易用功能(néng)。Glacios 冷凍 TEM 将這一(yī)切都綁定在很小(xiǎo)的空間内,簡化了安裝過程。
内建連通(tōng)性确保在整個(gè)工(gōng)作流中提供一(yī)條穩固、無污染的通(tōng)路(lù),從(cóng)樣品制備和優化一(yī)直延伸到(dào)圖像采集和數據處理。Glacios 冷凍 TEM 可在單顆粒分析 (SPA) 工(gōng)作流中用于預篩選樣品質量,然後傳輸到(dào) Krios 冷凍 TEM 以進行極限分辨率 SPA 數據采集。此外,Glacios 冷凍 TEM 還(hái)可以配置直接電(diàn)子探測器(qì)和/或 Volta 相(xiàng)位闆,以便構成完整的獨立 SPA 數據采集解決方案。